正電子壽命時間譜系統(tǒng)

概述

正電子的存在首先由 Dirac 提出，在 20 世紀 30 年代通過實驗得到證實。正電子是電子的反粒子。正電子與電子的碰撞將導致兩個粒子湮滅和發(fā)射兩個特征 511-keV 伽馬射線。這種現(xiàn)象有助于測試量子理論關于電子和正電子與物質相互作用之間差異的預測。此外，正電子已被證明是研究各種結構和過程的有用工具。正電子的壽命可用來測量湮滅點處的局部電子密度。借助于發(fā)射的伽馬射線可以輕松檢測湮滅。正電子壽命技術是對單原子尺度空洞敏感的少有的幾種方法之一。

優(yōu)點

• 經(jīng)過全面測試和集成的“交鑰匙"系統(tǒng)... 您只需要一個正電子源。

• 一整套帶標簽的電纜和連接器。

• 兩個 905-21 型探測器組件。

• 有關測試過程和結果的文檔。

PLS-System 包括

• 2 個 905-21 型探測器組件。

• 2 個 583B 型恒定分數(shù)鑒別器。

• 2 個 556 型高壓電源。

• 1 個 414A 型快速符合。

• 1 個 567 型時間幅度轉換器/單通道分析儀。

• 1 個 928-MCB 型多通道分析儀，帶 MAESTRO 軟件。

• 1 個 DB463 型延遲盒。

• 1 個 4001A/4002D 型 NIM 機箱和電源。

• 1 個 113 型前置放大器。

• 1 個 575A 型光譜放大器。

• 1 臺個人電腦。

• 1 套帶標簽的電纜和連接器。

• 1 個規(guī)程與工廠測試文檔。

該系統(tǒng)的保證時間分辨率為 200 皮秒（通常測量小于 180 皮秒），使用 Co-60 源在窄能量窗口進行測量。

（此系統(tǒng)不含源。）

PALS：達到納米級。

軟凝聚物質最重要的一個結構問題是由于不規(guī)則堆積、密度波動和拓撲約束而在分子之間存在未占據(jù)或自由體積。自由體積被認為是能夠進行分子重組的體積分數(shù)，并且在確定系統(tǒng)的物理和機械性質方面具有重要意義。

PALS 是一種成熟、多功能的技術，可以直接測量這些亞納米級分子自由體積。PALS 實驗將正電子注入到被測材料中然后測量它與材料的一種產生伽馬射線的電子一起湮滅之前的時間長度。